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    HSL1少子寿命分析仪
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    HSL1少子寿命分析仪

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    商品描述
    HSL1少子寿命分析仪

    功能特点

    测试原理采用国际公认的微波反射光电导衰退法拥有国家发明专利(专利号:ZL2003 1 0108310.7

    选用脉冲能量充足、波长适合的专业激光器为激发源金狮贵宾会登录官网--官网|登陆|注册--[金狮贵宾会登录官网]--欢迎你,性能可靠稳定

    方便直观的操作过程,步骤简单

    主要参数

    测试范围和精度

    可测试材料

    硅片或块状硅材料

    扩散形成P-N后的太阳电池(无金属电极)

    少子寿命测试范围

    (1~1000)μs

    电阻率测试范围

    ≥0.1Ω·cm

    测试不重复度

    ≤5%(测试条件不变时)

    测试速度

    2/

    机械参数

    微波源

    10Kg; 465mm()*230mm()*470mm()

    工控机

    20Kg; 500mm()*400mm()*170mm()

    脉冲激光源

    10Kg; 350mm()*130mm()*450mm()

    使用要求

    供电

    220VAC±10%, 20A, 50/60Hz金狮贵宾会登录官网--官网|登陆|注册--[金狮贵宾会登录官网]--欢迎你,单相电


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